產品特色:

1.由傳輸線供電,不用額外電源供應

2.電壓範圍:0.05V-13.5V

3.電流範圍:0.05A-4A

4.測試模式:恆定電流放電(CC)、高通QC 2.0/3.0觸發測試、MTK PE/PE+觸發測試、USB裝置電壓電流檢測

5.最大功率:25W

6.透過電腦軟體控制及擷取測試數據(參數控制、數據擷取、曲線繪製、設備校正、設備韌體升級)

 

本體外觀,附帶一個USB A插頭及插座,上方有功率晶體用散熱片及散熱風扇,散熱風扇只有開始進行恆定電流放電測試時會轉動,其他時間保持停止

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透過左方Micro USB插座連接標準傳輸線至電腦USB埠,用來對本體供電、功能控制及數據擷取,本體只有在USB A插頭有一個指示燈,並無其他按鍵及指示裝置,一定要搭配電腦及軟體才能運作,無法獨立作業

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底部有壓克力板,用來保護底部零件,上方有ZKE品牌刻印

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壓克力板與電路板之間只有使用橡皮墊圈,墊圈厚度太薄,導致壓克力板壓到元件而有點變型

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散熱片底部透過黃色導熱膠與功率晶體接觸

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拆下散熱片的電路板,功率晶體採背面朝上放置,使熱量能傳遞至散熱片

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使用的功率晶體為IRIRLZ44N MOSFET

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主電路板底部放置主要元件,藍色框是STM8S003F 8位元微控制器,綠色框是OP213E運算放大器,用來進行電壓及電流的採樣,白色框是0.01歐姆分流電阻,用來偵測電流,黃色框是PL2303S USB介面轉換IC,用來把MCU通信介面轉換成USB跟電腦進行溝通

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本體插上待測裝置,未連接傳輸線時,本體只有0.1mA不到的消耗電流

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當插上傳輸線後,本體會有16mA的靜態電流,不過測試開始後,此靜態電流不會造成測試的影響

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本體最主要的功能就是當成恆流負載,對待測裝置進行放電測試,並記錄數據及繪製曲線,下面就是其搭配的連線軟體EB Tester,會依照右邊中間設定的電流(Test Val)、截止電壓(Cutoff Volt)、最長運作時間(Max Time)來對被測裝置進行測試,測試的電壓、電流、功率及時間會顯示在右上處,並把電壓電流曲線繪製在圖表上,最下面有裝置、模式、起始電壓、截止電壓、放電容量mAh、放電電量mWh、平均電壓等其他測試數據

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除了單次模式外,還有自動測試模式,可以指定開始電流、停止電流、截止電壓、步進單位、間隔時間,就可以對測試電流採取自動累加,可以用來測試被測裝置的負載能力

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這時會看到電流曲線呈現階梯狀,右上表格會儲存每組測試的電壓、電流及功率數據,方便查閱

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EBD-USB還內建了高通QC 2.0/3.0MTK PE/PE+電壓申請測試功能,在測試快充電源裝置的過程中,可以透過快充控制功能視窗,來申請輸出電壓,申請成功的話也會即時的表現在電壓圖表及數據上,下圖就是在測試1A恆電流放電下,透過電壓申請功能,讓充電器輸出電壓在5V-9V-12V間轉換

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本裝置還可以記錄USB裝置的電壓及電流曲線,下圖使用EBD-USB紀錄iPad2充電的電壓及電流

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IPad2充電的電壓電流圖表如下,藍色是電壓,紅色是電流,電流剛開始有一段較平穩的曲線是於螢幕關閉下充電,後方變動較大的曲線是一面充電一面操作,額外增加的耗電讓充電電流呈現上下變動

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利用EBD-USB紀錄LG G2的充電電壓及電流

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一面操作手機一面充電的結果讓電流曲線呈現大幅度上下變動的情形

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本體散熱片較小,且只使用導熱膠來結合散熱片與功率晶體,熱傳導阻力大,使用額定25W功率測試一段時間後,從紅外線熱影像就可以看到功率晶體的溫度往上飆到172度,但與其接觸的散熱片卻沒有跟著變熱的跡象,其影像仍維持在深色,

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部分熱量傳導到背面壓克力,也有80度的溫度

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將其散熱片進行修改,主要是加大,同時將功率晶體採用螺絲固定在散熱片上,散熱片與晶體間的接觸面使用高品質散熱膏塗抹,減小傳導熱阻

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這裡可以看出兩者散熱片體積及鰭片面積的差異

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散熱改良後,25W功率下運作一段時間後使用紅外線熱影像觀察,可以看到晶體溫度大幅下降,降至62度,散熱片部分的顏色變亮,表示熱量已經有效傳導至散熱片上

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電路板背面溫度同樣也獲得控制

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優點:

1.體型小巧,卻能集合恆定電流放電、QC 2.0/3.0MTK PE/PE+觸發器及USB電壓電流表於一身

2.連線傳輸軟體除可控制負載運作外,還可以擷取數據、繪製曲線、取電測試,同時可以透過軟體對裝置進行校正及韌體升級,功能相當齊全

 

缺點:

1.原裝散熱片體型及固定方式,對大功率運作下的晶體散熱需求來說不足

2.通電後尚未開始測試前就有一個靜態電流消耗,雖然開始測試後不會造成影響,但可能會在不知情的狀況下造成待測裝置電量慢慢被負載消耗(例如測試結束後未拔除裝置或是開始測試前就先插上裝置)

 

報告完畢,謝謝收看

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